二手仪器价格三极管测试仪可控硅测试仪

价格面议2023-06-13 12:00:45
  • 深圳市新耀德电子仪器有限公司
  • 磁性材料分析仪
  • 三极管测试仪,晶体管图示仪,场效应管测试仪,IGBT测试仪
  • 曾广文
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介子分析仪 SY-8219 品牌 Agilent/安捷伦
工作温度 常温 显示方式 数字式
晶体管 CS-3100 类型 多参数测试仪

二手仪器价格三极管测试仪可控硅测试仪

IWATSU B-H ANALYZER SY-8218 磁性材料特性测试分析仪二手,
IWATSU B-H ANALYZER SY-8218磁性材料分析、磁性材料特性测试分析仪SY-8219



用于超宽带域的高频材料分析

SY-8218: 10Hz ~ 10MHz

SY-8219: 10Hz ~ 1MHz



用途

软磁性材料, 硅钢片, 电感等

传统汽车车载电子零部件

电器电子一般电器产品

电子零部件,组件

材料非金属材料

适合于测试硅钢片、铁氧体、非晶体材料等软磁性材料磁特性

日本IWATSU CS-3300半导体特性曲线图示仪CS-3100,CS-3200,(符合 UL 规格)

非常适合测量不同类型半导体(包括IGBT、MOSFET、晶体管和二极管)的特性

zui大峰值电压:3000 V(高电压模式,适合所有型号)

zui大峰值电流:1000 A(CS-3300高电流模式)

所有型号均支持漏电流(LEAKAGE)测试模式(光标分辨率:1 pA)

USB接口(保存屏幕图像和设置条件)

LAN接口(远程控制)



产品名称

型号

备注

主机

半导体特性曲线图示仪

CS-3100

3000V /无高电流模式- CS-301 / CS-500

半导体特性曲线图示仪

CS-3200

3000V / 400A(高电流模式)- CS-302 / CS-500

半导体特性曲线图示仪

CS-3300

3000V / 1000A(高电流模式)- CS-302 / CS-500

测试台

S型测试台

CS-301

CS-3100标配

M型测试台

CS-302

CS-3200 / CS-3300标配

测试适配器

测试适配器

CS-500

主控装置附送1个测试适配器

TO型测试适配器

CS-501

适用于TO型封装(3个引脚)的插口

鳄鱼夹

小型鳄鱼夹(红色) x 10

CS-001

M型测试台选件:CS-302

小型鳄鱼夹(黑色) x 10

CS-002

M型测试台选件:CS-302

软件选件

半导体参数搜索

CS-800

该软件选件需与CS-3000系列配合安装

半导体参数测量

CS-810

主控装置中装有CS-800时,该选项可以在PC(可选)上使用。

标准配置 (主机背面)
测试点数可调整.可根据需要的扫描速度及分辨率来设置. 根据不同用途可改变扫描方向. 同时具有客户指定功能, 可以指定仅对某一段进行扫描, 特别是在自动测试时可以实现高速且高分辨率的测试(附图)
限制扫描功能 (选件CS-800)
在一般的扫描测试中加入电流, 电压的限制功能. 限制在被测模块上印加的电流值, 电压值以起到保护作用. 也可在达到目标值时停止扫描(附图)
Vth-hFE自动检测功能(选件CS-800)
可在条件设㝊后进行自动测试, 避免了之前的繁杂操作
Constant 功能 (选件CS-800)
可印加规定电压或规定电流. 与CS-810半导体参数测试软件配合使用时, 可使用半导体曲线图示仪进行自动疲劳测试
温度特性测试 (选件CS-810)
通过CS-810半导体测试软件对曲线图示仪, 扫描系统, 加热板的自动控制, 实现温度特性评估试验的全自动测试 (附图)
CS-810是一个可安装于电脑中的选件应用软件. 通过以太网控制图示仪, 扫描系统, 加热板等设备, 经简单的设置后就可将一直以来只能手动测试的曲线图示仪实现全自动化测试, 大幅地提升工作效率
全自动化测试:测试→记录→判断. 提高品管和品检的工作效率 (附图)
模块或数个芯片, 器件自动切换测试
可自动控制加热板, 全自动进行六合一模块的温度特性测量
测试结果窗口 (附图)
波形比较功能: 可将产品开发时的不稳定状态或不良分析时测得的多个波形进行同屏比较, 或通过波形比较来判断是否合格 (附图)
产品应用
适用于高电压或高电流功率器件 (如IGBT和功率MOSFET) 及半导体器件 (如晶体管, 二极管和 LED) 的特性测试
电力电子器件 (如 SiC和GaN) 的电容测量 (选件CS-603A/CS-605A)
可实行晶圆和芯片上的电容测试 (探针台和选件CS-603A/CS-605A)
静态特性测试包括漏电流, 饱和电压, VF和Vth (附图)
传输特性 (Vge-Ic/Vge-Vce) 和电路模块的测试功能
器件测试
可以在短时间内执行多个器件的测试和记录. 操作员只需根据器件替换和连接更改来输入样本名称, 以重复相同的测试. 在既定条件下判断 (通过/失败) 将显示每个测试与图像和波形数据也将自动存储(附图)
半导体温度特性测试评估
CS-3100 CS-5300 IWATSU CS-5200/3200/3300 岩崎IGBT半导体曲线,
半导体特性曲线图示仪 CS-3000系列 (符合 UL 规格)规格

项目 CS-3100 CS-3200 CS-3300
集电极电源
模式 高电压 AC、±全波整流、± DC、±LEAKAGE
大电流 - 脉冲
zui大峰值功率
120 mW、1.2 W、12 W、120 W、390 W
*可以选择390 W(不含3000 V范围下的zui大峰值电压设置)。

- 大电流模式(400 W、4 kW) 大电流模式(400 W、4 kW、10 kW)
高电压模式
zui大峰值电流
(zui大峰值脉冲电流) zui大峰值电压
75 mA (150 mA) 3000 V(2500 V,AC)
750 mA (1.5 A) 300 V
7.5 A (15 A) 30 V

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